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JIS-STB-A32試験片




 STB-A32試験片     商品番号   JIS-STB-A32

\55.000-(60.500税込)
主に超音波斜角探傷試験の測定範囲の設定、入射点の測定、入射屈折角の測定、および超音波垂直探傷試験の測定範囲の設定などに使用します。  
 合格証明書、トランクケース収納

*代金引換の場合別途送料・代引き手数料が必要となります。




超音波試験片

JIS標準試験片

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